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材料分析

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	材料分析实验室配备了数十台业内先进的主流电镜，支持先进芯片样品的截面和平面分析，包含形貌观察、尺寸量测、元素分析及晶体学结构解析。由多位博士领衔的技术团队，不仅具有高超的半导体失效分析技术和丰富的案例经验，而且有深厚的半导体知识背景，能有效助力客户快速地发现问题，甄别失效的真因，改善生产工艺及产品设计。
	材料分析 MA/Materials Analysis --- Focused Ion Beam(FIB) 支持截面观察、量测与成分分析、与制备高质量的TEM样品等。
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“鱼鳞状”晶体管的TEM照片


	痕量金属测试能力对半导体生产中的化学品进行金属含量测试，如UPW、HF、HCL、HNO3、H2SO4、H3PO4、NH4OH、Wafer表面、Wafer本体、BOE、SC1、SC2、DEV、H2O2、IPA、NMP等进行痕量分析(ppt level)；可测试金属有Li、Na、Mg、Al、K、Cr、Mn、Fe、Ni、Pb、Co、Ca、Ga、As、Cu、Zn、Ag、Ba、Tl、B、Bi、Cd、In、Sr、W、Si、Ti等；1ppt级别的检测能力；同时可做同位素分离等。
	Angilent ICP-MS 8900		Agilent ICP-OES 5800
	WSPS VPD实验机台	对半导体生产中的WAFER正表面和背表面进行金属测试(VPD-ICP MS)。可测试金属有Li、Na、Mg、Al、K、Cr、Mn、Fe、Ni、Pb、Co、Ca、Ga、As、Cu、Zn、Ag、Ba、Tl、B、Bi、Cd、In、Sr、W、Si、Ti等。10^8atom/cm2级别的检测能力。
	痕量离子浓度测试能力 ThermoFisher ICS6000	离子测量有F-、CI-、NO3-、SO42-、PO43-、NH4+等。10ppt级别的检测能力。
	瑞士万通905双通全自动电位滴定仪酸碱+氧化还原		瑞士万通852卡尔费休库仑容量双通道水分仪
	可精确定量半导体原材料，生产工艺过程中的化学品浓度，如：Slurry、BOE、TMAH、SC1、SC2等化学品浓度。 GC-MS应用：分析来自FAB环境样品中的VOC含量 VOC：Volatile Organic Compound		傅里叶变换红外分析仪是用来分析WAFER中的C、O整体浓度分布的仪器。分析原理：全光谱吸收对比，精度PPM-PPM。即可以单点浓度分析，也可以面扫描分析。
	Agilent 5977-8860+TD100热脱附		Nicolet™iS50 FTIR
化学实验室测试能力

季丰电子成立于2008年，是一家聚焦半导体领域，深耕集成电路检测相关的软硬件研发及技术服务的赋能型平台科技公司。公司业务分为四大板块，分别为软硬件开发、基础实验室、测试封装和仪器设备，可为芯片设计、晶圆制造、封装测试、材料装备等半导体产业链和新能源领域公司提供一站式的检测分析解决方案。
季丰电子通过国家级专精特新“小巨人”、国家高新技术企业、上海市“科技小巨人”、上海市企业技术中心、研发机构、公共服务平台等企业资质认定，通过了ISO9001、 ISO17025、CMA、CNAS等认证。公司员工近1000人，总部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地设有分公司。

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