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失效分析

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	致力于高科技产业的顶尖贵重仪器中心、产业研发平台与质量保证、全国各地分部的失效分析实验室，全年无休、免费收送件服务、专案整案、从无损到有损的高时效的权威分析与咨询。

	● 国内外先进精密仪器设备，致力于半导体领域、电子领域、机械领域、智能化领域、化工领域、材料领域的技术检测分析 ● 失效分析实验室技术团队成员拥有集成电路晶圆制造，集成电路封装，凸块制造，CP测试产业领域丰富经验 ● 失效分析实验室坚持以客户为中心，公正、准确、及时、周到的服务理念以及健全的管理体系为客户提供满意的服务

	非破坏性分析 ● SAT ● 2D X-Ray ● 3D X-Ray：ZEISS Xradia 620 Versa 1.实现大工作距离下大尺寸样品的高分辨成像，最高分辨率可达0.5um 2.电压范围：30KV-160KV，最大输出功率：25W 3.样品台承载负荷 4.样品台行程：50mm100mm50mm

	样品制备 ● Polish：进行定点/非定点研磨，结合Ion Milling的使用给出更清晰的截图效果。 ● Decap：金线，铜线，镀钯铜线，银线，各种封装，包括超小封装。 ● Delayer：RIE通过采用O2、CF4、CHF3、SF6等等离子气体可以去除Oxide、Nitride、Polyimide、Si等材质，结合物理研磨对高阶芯片及BSI样品进行去层。

	SEM扫描电子显微镜/Dual Beam FIB双束聚焦离子束季丰目前三大SEM供应商，包含：冷场SEM、热场SEM。最高分辨率可达0.1nm，满足高分辨的观察；配备ESD，能够对样品进行表面成份分析。冷场配备YAG系统，可提供更清晰的图片。同时配备多台DB FIB进行纳米级样品制备，冷、热场相结合，实现为客户收集更全面数据的效果。

	FIB CKT 线路修补 FIB 线路修补设备 Thermo Scientific™ CENTRIOS 高级电路修补设备支持10纳米及以上制程的芯片设计。它支持先进的正面和背面修改，具有专业的修改控制和精确度。

	NP6800 Prober IV 系统 ● Nanoprober为显微镜或电镜下微纳操作提供纳米级微操纵方案，非常适合SEM和各种电镜样品微操作使用； ● NP6800可快速增加或移除纳米探针模块，调整定位和方向，也可以现场远程控制，使用非常方便； ● 搭配冷场高分辨电镜-SEM匹配使用，即使在加速电压低于0.5kV也能充分施展高分辨性能。
		● 100eV的探测电压，系统有效避免电荷积累，增加SEM解析度 ● DI-EBAC精准定位闸极氧化层崩溃点，进一步执行截面TEM ● EBAC以发现低至~100Ω的3D互连结构中的关键故障 ● 750ps pulsed IV量测，侦测闸极高阻之现象 ● IV测量性能：0.1fA/0.5μV测量分辨率 ● EBIRCH低阻抗短路，可侦测10W阻抗 ● IV量测

季丰电子成立于2008年，是一家聚焦半导体领域，深耕集成电路检测相关的软硬件研发及技术服务的赋能型平台科技公司。公司业务分为四大板块，分别为软硬件开发、基础实验室、测试封装和仪器设备，可为芯片设计、晶圆制造、封装测试、材料装备等半导体产业链和新能源领域公司提供一站式的检测分析解决方案。
季丰电子通过国家级专精特新“小巨人”、国家高新技术企业、上海市“科技小巨人”、上海市企业技术中心、研发机构、公共服务平台等企业资质认定，通过了ISO9001、 ISO17025、CMA、CNAS等认证。公司员工近1000人，总部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地设有分公司。

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