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5000平米的可靠性实验室与量产基地,为客户提供晶圆级、产品级、封装级的可靠性认证,设备种类齐全,认证项目完整,拥有官方17025及CNAS认证资质、整案能力提供,为数百家企业级客户提供了IC集成电路、功率器件、系统零部件等车规电子认证与量产服务。 | ||||||||
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由专业人员组成的团队为客户提供晶圆级、产品级、封装级的可靠性实验服务,如:高温工作寿命HTOL、BLT、早期失效ELFR、高加速温湿度实验BHAST、THB、HTSL、HTRB/HTGB、H3TRB、IOL、Power Cycling、TC、板级TC、PCT、Pre-condition、可焊性/耐焊性、SAT、Drop test、Vibration test、EMC、全套车规可靠性认证等。 | ||||||||
DI DL601HV16 Burn-in System 低温LTOL-DI DL602AC-40℃~150℃ 184 IO Channel Incal Onebox/Shasta/Echo Burn-in System MCC独立温控HTOL:LC2 H1+,LC2 V2S,HPB-5C Incal 用于量产筛选早夭失效芯片 芯片寿命鉴定和可靠性监控 分立器件和功率模块测试 满足最高2000V的HTRB/H3TRB测试 满足最高60A的HTGB测试 满足最高3000A的功率循环测试 满足MOS/FRD/IGBT的IOL并联和串联测试 IC Precondition/SAT Test 支持潮敏等级MSL1~6 IO温区高精度大型回流焊系统 超声波扫描显微镜---无损检测分层 Thermal Shock Test 满足JESD22-A106B标准测试 可测温度范围(-65~155℃) H160 SOC数字老化测试机 支持多点电压电流监控 支持项目安全码功能 |
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EMC/EMI测试 根据SAEJ1752/3标准的RaditatedEmissions,采用集成电路TEM单元方式的辐射发射测量,TEM小室(150kHz至1GHz) 我们使用的EMC32软件可以支持修改接收机输入口,扫描次数,测试带宽,扫描步进,扫描时间,内置预放、衰减等参数,并且可以自动生成报告。我们使用的receiver和前置放大器如右图所示,receiver支持到6G,而放大器可以达到3G。 |
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IC TC,Board Level TC Test 两箱式、三箱式,支持车规AECQ100 轻松满足JEDEC温度循环Condtion℃(-65℃~150℃) 板级TC斜率可调5℃,10℃,15℃,20℃ 120通道电阻数据实时记录系统 |
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金顿机械冲击试验机Drop Test 满足业界最严测试要求的10000g加速度、0.25ms的脉冲时域 金顿高频振动试验机Vibration Test 峰值加速度:100g,正弦额定推力:2000kgF |
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ESD认证团队及仪器设备,拥有MK4、MK2、Orion、TLP、高压ESD,还有多台EFT、Surge等数十台设备,在上海、杭州、深圳、成都等地设点。 MK2/MK4机台——测试HBM MM Latch up Orion3机台——测试CDM TLP机台——测试Package or 12寸Wafer Level |
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致力于大尺寸组件、PERC电池、HJT电池、HIT电池、TOPCON电池、N型硅等新科技的新能源方面,全面完善为客户提供高效优质的可靠性服务(IEC61215、IEC61730),亦可根据客户需求提供定制化测试服务。 | ||||||||
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● 光伏组件功率测试,高精度进口光源,覆盖低波长至超远红外波长段,Pmpp Voc Isc FF 产品温度系数测量等; ● 使用国际公认的德国TUV南德溯源,同时有中国计量院溯源; ● 对不同型号硅基材组件都能测试,如:N型硅基组件、P型硅基组件、双面组件、单面组件、柔性组件,及时不同入射角的响应等。 |
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● IEC系列:温度系数(MQT 04) ● 在标准测试环境(STC)及额定组件工作温度(NMQT)时的功率(MQT 06) ● 低辐照下的功率(MQT 07) |
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环境试验箱 ● 实验涵盖DH HF TC PID等试验; ● 同时能对不同尺寸,大尺寸组件,高密度测试等需求都能有效满足; ● 同时可以做快速温变实验,加速模式实验等快速老化实验。 |
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安装类测试 ● 全套高规格设备,满足标准要求; ● 可提供绝缘耐压(不同电压电流下组件电阻的跟踪)、湿漏电(模拟在雨天,不同酸碱度的条件组件漏电电阻变化); ● 接地连续性,反向电流实验(模拟反向漏电的风险测试)等相关安规类试验测试。 |
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机械力学类测试 |
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具备全套机械力学类测试能力 | ||||||||
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