季丰电子

5000平米的可靠性实验室与量产基地，为客户提供晶圆级、产品级、封装级的可靠性认证，设备种类齐全，认证项目完整，拥有官方17025及CNAS认证资质、整案能力提供，为数百家企业级客户提供了IC集成电路、功率器件、系统零部件等车规电子认证与量产服务。

由专业人员组成的团队为客户提供晶圆级、产品级、封装级的可靠性实验服务，如：高温工作寿命HTOL、BLT、早期失效ELFR、高加速温湿度实验BHAST、THB、HTSL、HTRB/HTGB、H3TRB、IOL、Power Cycling、TC、板级TC、PCT、Pre-condition、可焊性/耐焊性、SAT、Drop test、Vibration test、EMC、全套车规可靠性认证等。

DI DL601HV16 Burn-in System

低温LTOL-DI DL602AC-40℃~150℃
184 IO Channel
Incal Onebox/Shasta/Echo Burn-in System

MCC独立温控HTOL：LC2 H1+，LC2 V2S，HPB-5C

Incal
用于量产筛选早夭失效芯片
芯片寿命鉴定和可靠性监控

分立器件和功率模块测试
满足最高2000V的HTRB/H3TRB测试
满足最高60A的HTGB测试
满足最高3000A的功率循环测试
满足MOS/FRD/IGBT的IOL并联和串联测试

IC Precondition/SAT Test
支持潮敏等级MSL1~6
IO温区高精度大型回流焊系统
超声波扫描显微镜---无损检测分层

Thermal Shock Test
满足JESD22-A106B标准测试
可测温度范围(-65~155℃)

H160 SOC数字老化测试机
支持多点电压电流监控
支持项目安全码功能

EMC/EMI测试
根据SAEJ1752/3标准的RaditatedEmissions，采用集成电路TEM单元方式的辐射发射测量，TEM小室(150kHz至1GHz)
我们使用的EMC32软件可以支持修改接收机输入口，扫描次数，测试带宽，扫描步进，扫描时间，内置预放、衰减等参数，并且可以自动生成报告。我们使用的receiver和前置放大器如右图所示，receiver支持到6G，而放大器可以达到3G。

IC HAST，uHAST Test
支持大型HAST板(>60cm超大板)
完全消除试样结露、潮湿等现象
温度+105.0℃~+142.9℃及75~100%RH控制
压力范围：0.020~0.196MPa(Gauge)

IC THB，PCT Test
完美支持双85实验
完全消除试样结露、潮湿等现象
温度25~98%RH可调

IC TC，Board Level TC Test
两箱式、三箱式，支持车规AECQ100
轻松满足JEDEC温度循环Condtion℃(-65℃~150℃)
板级TC斜率可调5℃，10℃，15℃，20℃
120通道电阻数据实时记录系统

金顿机械冲击试验机Drop Test
满足业界最严测试要求的10000g加速度、0.25ms的脉冲时域

金顿高频振动试验机Vibration Test
峰值加速度：100g，正弦额定推力：2000kgF

ESD认证团队及仪器设备，拥有MK4、MK2、Orion、TLP、高压ESD，还有多台EFT、Surge等数十台设备，在上海、杭州、深圳、成都等地设点。
MK2/MK4机台——测试HBM MM Latch up
Orion3机台——测试CDM
TLP机台——测试Package or 12寸Wafer Level

致力于大尺寸组件、PERC电池、HJT电池、HIT电池、TOPCON电池、N型硅等新科技的新能源方面，全面完善为客户提供高效优质的可靠性服务（IEC61215、IEC61730），亦可根据客户需求提供定制化测试服务。

● 光伏组件功率测试，高精度进口光源，覆盖低波长至超远红外波长段，Pmpp Voc Isc FF 产品温度系数测量等；
● 使用国际公认的德国TUV南德溯源，同时有中国计量院溯源；
● 对不同型号硅基材组件都能测试，如：N型硅基组件、P型硅基组件、双面组件、单面组件、柔性组件，及时不同入射角的响应等。