上海季丰电子股份有限公司

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FA/失效分析验证
1、上海季丰电子公司针对客退/客诉样品(RMA)、失效样品提供FA分析之服务,可在上海联合实验室里面可提供服务,包含:RMA 样品电性侦测(IV Curve)、Decap、Delayer、磨片、 Cross-Section、EMMI 、 SEM观察等。
2、战略合作伙伴-泛铨科技(msscorps.com) 可协助更精细(40nm以下)的FA相关分析(Dual Beam-Helios660;TEM FEI/JEOL)以及FIB电路修改(V400ACE)。