上海季丰电子股份有限公司

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产品可靠性试验(HTOL/HAST/BHAST)
•实验室依照ISO9001体系建制,为客户提供全天候24hrs全年不间断服务
 
•试验项目包含高温工作寿命试验(HTOL)、偏压寿命试验等,业内率先实现试验前后厂内FT测试,真正实现从BIB到ATE之完全解決方案(Total Solution)

•工作寿命试验(Operation Life Test)
  试验条件:TEMP:125 ℃ or 150 ℃or Define
  验证时间:24、168、504、1000、2000小时

•Incal:
 2 sets Onbox/Shasta (16+24slots)

•偏压寿命试验(Bias Life Test)
  设备能力: Bias:0-100 V,Temp: Max +250℃

•HAST:
  双Chamber,2段装载型,46L*2
  +105.0℃ ~+ 142.9℃及75~100%RH控制
  压力范围:0.020~0.196MPa(Gauge)


分立元器件可靠性试验箱:


HTRB&HTGB                                                                                功率循环寿命(IOL)                                                              H3TRB

    


1、HTRB                                                                                      系统配置                                                                                  符合标准
板子尺寸:280×580mm                                                          研华原装工控机;                                                                系统设计和实验线路符合JEDEC,MIL-STD-                                                                                                                                                                                                                               750E,GJB128A,AEC-Q101等标准实验要求
温度范围:(RT. + 20)℃~ +200℃                                      大功率风散热系统;                                                             适用范围:
电源能力:1.2KV0.5A  &  2.5KV0.3A                                    大功率电源加热系统;                                                        适用于各种封装的Diode,IGBT,TVS,Thyristor等器                                                                                                                                                                                                             件进行高温高湿HTRB的筛选实验和耐久性实验
插槽数:16                                                                                环境温度测量系统;                                                            实验通道和实验区域:
2、HTGB                                                                                      25V/40A双路输出直流老化电源8台;                             通道数:系统共有16个独立的老化通道,可以插播                                                                                                                                                                                                              16块老化实验板
板子尺寸:280×580mm                                                          40个工位老化板12块;                                                       实验区域: 1.每个老化实验通道组成一个实验区                                                                                                                                                                                                                   域,系统共有16个实验区域
温度范围:(RT. + 20)℃~ +200℃                                      系统使用条件                                                                          2.每2个试验区配置1路老化电源,系统共配置8路老                                                                                                                                                                                                             化电源          
电源能力:100V3A                                                                  环境温度 0~40℃;                                                              3系统实现8中不同的耐压器件同时实验  
插槽数:16                                                                                电网电压 220V±10%;                                                         设计方式:  检测控制采用单板单区的方式,每个实                                                                                                                                                                                                             验通道对应一块由单片机控制的控制检测板
相对湿度 不大于80%;                                                         电网频率 50HZ±1 HZ;                                                          2.系统共16块独立的控制检测板
现有公板:TO220,TO247. 其他封装可以定制。          整机功耗 最大使用功率:10KW                                        实验容量:
特点:1、超高压,高达2500V                                                                                                                                                通道实验容量:每个实验通道的最多独立检测工位                                                                                                                                                                                                              数:80位
             2、可以监控每颗芯片的电流                                                                                                                                     系统实验容量:系统共16个实验通道,最大可检测                                                                                                                                                                                                              的工位数:16通道*80位/通道*1280位
             3、单块板可以支持80  DUTs