上海季丰电子股份有限公司

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Probe Card/探针卡
上海季丰电子公司同样地提供了不同測試平台上的圆片测试(Wafer CP testing)的探针卡(Probe Card),我们可以制作如下平台的针卡Probe Card,包含:悬臂针、垂直针、MEMS针。

  
 
•配备了多个针座(最多可以用10个针座),可以进行多路通道测试。
•配备了12寸载台,可以测试12寸wafer。
•配备了Curve tracer 软件和测量硬件,可以进行I/V curve的测量。结合各种仪器仪表,电源,示波器可以对芯片,板子进行详细测量。
•配备了laser mark(美国Newwave激光),可以对样品进行激光做标记,以便于FIB下进行位置参考。也可以进行金属cut,特别是metal fuse cut。